模拟测试MOS质差分析报告

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1. 概述 3

2. 网格MOS差原因分析及解决方案 4
2.1  5号网格MOS差主要因素： 4
2.1.1半速率占比较高 4
2.1.2频繁切换、无主控 5
2.1.3连续质差 6
2.2  11号网格MOS差主要因素 6
2.2.1断站影响 7
2.2.2弱覆盖、无主控 8
2.2.3连续质差 9
2.3  6号网格MOS低的主要因素 9
2.3.1弱覆盖 9
2.3.2同频干扰 10
2.4其他网格MOS质差原因 11
2.4.1站点删除导致的MOS质差 11
2.4.2应急站未开通 12
2.4.3部分路段存在频繁切换的情况 13
2.4.4部分路段存在质差的情况 13
2.4.5车速快导致切换多 13
2.4.6数据业务导致的小区内切换 13
2.5优化措施 14
2.5.1半速率优化 14
2.5.2删除站点及应急车开通 15
2.5.3频繁切换及质差路段优化 15
2.5.4车速及测试过程控制 15
2.5.5小区内切换控制 15
2.5.6新功能的使用 16
3. 总结 16

概述

1月31日-2月2日对xx12个网格进行了模拟测试，测试前对半速率参数进行调整，进一步压缩半速率信道占用比例，用以提升测试MOS质量