Essential Macleod中的吸取工具

lanseyouyu1976

一个膜系的吸取率是一个可以计算的参数，它能与反射率和透射率一起作为二维和三维图的可选参数列出。此外，还有两个工具可以处理吸取率，它们隐藏在设计分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。这两个工具到底是做什么的？

吸取率是一种测量膜层损失能量的方法。严格地说，它应该是转化成热量的东西，但通常只把它作为反射光和透射光中所缺少的东西的一种度量。因为与真正的吸取相比，大多数其他的损耗通常都很小，而且由于它们和吸取一样，与电场振幅的平方成正比，所以任何差别都很小。不管怎样，大多数工程师都喜欢对总损失进行衡量。对于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系数就是与吸取相关的参数。它所代表的损失取决于它的测量方法。因此大家写了一个光学薄膜

1=R+T+A  (1)

如果结果以百分比表示，则左侧变为100。这就是设计吸取率的计算方法。

现在让大家考虑一层厚度为dt的薄层埋在膜层内。每单位面积薄层中的功率损失将是净入射辐照度（Ienter）和净出射辐照度（Iexit）之间的差值。这可以通过各种方式进行操作。

将入射到整个涂层上的辐射强度设为Iincidence，薄片的吸取率为dA，势吸取率为da。则

(2)

(3)

然后，膜层中的总吸取率简单地是（2）在膜厚度上的积分。

图1显示了使用具有无吸取低折射率材料（SiO2）和轻微吸取的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄带滤光片的一些结果。电场分布的平方很好地说明了吸取率变化。势吸取率几乎相同，因为反射率为零，但膜层前面部分的吸取降低了分母上的Ienter的值，因此膜层后部的吸取率逐渐增加。

然后，膜层中的总吸取率简单地是（2）在膜厚度上的积分。

图1显示了使用具有无吸取低折射率材料（SiO2）和轻微吸取的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄带滤光片的一些结果。电场分布的平方很好地说明了吸取率变化。势吸取率几乎相同，因为反射率为零，但膜层前面部分的吸取降低了分母上的Ienter的值，因此膜层后部的吸取率逐渐增加。

图1具有吸取高折射率材料和无吸取低折射率材料的窄带滤光片的计算。由于反射率为零，吸取率和势吸取率几乎相同。